光电探测器综合特性测试系统的研究与设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-11页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·项目背景 | 第8-9页 |
| ·项目来源和本文工作 | 第9-11页 |
| 2 测试原理与方案选择 | 第11-21页 |
| ·光电探测器的特性参数 | 第11-14页 |
| ·测试原理 | 第14-19页 |
| ·本章小结 | 第19-21页 |
| 3 系统结构设计 | 第21-40页 |
| ·系统总体设计 | 第21-23页 |
| ·光源部分 | 第23-28页 |
| ·测试室部分 | 第28-31页 |
| ·控制与数据采集部分 | 第31-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 4 软件设计 | 第40-63页 |
| ·单色仪的软件控制 | 第40-52页 |
| ·电机、前放和偏压电路的软件控制 | 第52-55页 |
| ·数据采集卡的控制 | 第55-57页 |
| ·光谱响应测试流程的程序控制 | 第57-61页 |
| ·伏安特性测试流程的程序控制 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 5 实验结果与分析 | 第63-72页 |
| ·光电二极管测试实验 | 第63-68页 |
| ·光电三极管测试实验 | 第68-70页 |
| ·光电 PIN 管测试实验 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 6 总结与展望 | 第72-74页 |
| ·工作总结 | 第72页 |
| ·工作展望 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 附录 1：部分程序代码 | 第78-82页 |
| 附录 2：部分电路原理图 | 第82-84页 |
