铁电材料可调率测量原理及装置研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-12页 |
·本课题研究的背景及意义 | 第9-10页 |
·国内外研究状况 | 第10页 |
·论文研究的目的及内容 | 第10-12页 |
2 铁电材料可调率的测量原理及其总体设计 | 第12-22页 |
·铁电材料可调率测量的一般原理 | 第12-14页 |
·本课题研究的铁电材料可调率测量原理 | 第14-17页 |
·测试电路总体设计与电路仿真 | 第17-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
3 测试电路高压开关的设计 | 第22-39页 |
·测试电路高压开关的选择 | 第22-23页 |
·MOSFET 与 GTO 器件简介 | 第22页 |
·IGBT 器件基本结构简介 | 第22-23页 |
·IGBT 高压开关的串联特性 | 第23-25页 |
·串联IGBT 的保护电路 | 第25-29页 |
·串联IGBT 驱动装置的电路设计 | 第29-32页 |
·铁电材料可调率测试电路高压开关的仿真 | 第32-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
4 测试电路装置的实验 | 第39-48页 |
·铁电材料可调率测试电路高压开关的实验研究 | 第39-41页 |
·铁电材料可调率测试总体电路的实验研究 | 第41-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
5 结论与展望 | 第48-50页 |
致谢 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-53页 |