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铁电材料可调率测量原理及装置研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-9页
1 绪论第9-12页
   ·本课题研究的背景及意义第9-10页
   ·国内外研究状况第10页
   ·论文研究的目的及内容第10-12页
2 铁电材料可调率的测量原理及其总体设计第12-22页
   ·铁电材料可调率测量的一般原理第12-14页
   ·本课题研究的铁电材料可调率测量原理第14-17页
   ·测试电路总体设计与电路仿真第17-21页
   ·本章小结第21-22页
3 测试电路高压开关的设计第22-39页
   ·测试电路高压开关的选择第22-23页
     ·MOSFET 与 GTO 器件简介第22页
     ·IGBT 器件基本结构简介第22-23页
   ·IGBT 高压开关的串联特性第23-25页
   ·串联IGBT 的保护电路第25-29页
   ·串联IGBT 驱动装置的电路设计第29-32页
   ·铁电材料可调率测试电路高压开关的仿真第32-38页
   ·本章小结第38-39页
4 测试电路装置的实验第39-48页
   ·铁电材料可调率测试电路高压开关的实验研究第39-41页
   ·铁电材料可调率测试总体电路的实验研究第41-47页
   ·本章小结第47-48页
5 结论与展望第48-50页
致谢第50-51页
参考文献第51-53页

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