| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-21页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·固体进样 | 第10-12页 |
| ·悬浮液雾化进样 | 第12-18页 |
| ·悬浮液进样装置 | 第13-15页 |
| ·悬浮液制样 | 第15-18页 |
| ·悬浮液浓度 | 第18页 |
| ·校准方法 | 第18页 |
| ·基础研究 | 第18-19页 |
| ·等离子体基本参数测量 | 第18-19页 |
| ·输运行为研究 | 第19页 |
| ·悬浮液颗粒的蒸发行为研究 | 第19-20页 |
| ·研究内容和意义 | 第20-21页 |
| ·研究内容 | 第20页 |
| ·研究意义 | 第20-21页 |
| 第2章 改进Merten模型在悬浮液雾化进样端视等离子体中的应用 | 第21-32页 |
| ·前言 | 第21页 |
| ·仪器和材料 | 第21-22页 |
| ·主要仪器与操作条件 | 第21-22页 |
| ·实验试剂 | 第22页 |
| ·实验方案 | 第22-25页 |
| ·悬浮液制备 | 第22页 |
| ·碱熔样品制备 | 第22页 |
| ·进样颗粒收集 | 第22-24页 |
| ·分析物粉末颗粒粒径分布测定 | 第24页 |
| ·蒸发情况计算 | 第24-25页 |
| ·结果与讨论 | 第25-31页 |
| ·颗粒大小与蒸发效率 | 第25-27页 |
| ·雾化过程中颗粒的输运限制 | 第27-29页 |
| ·颗粒在等离子体内的蒸发计算 | 第29-30页 |
| ·质量传输效率 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 悬浮液颗粒在电感耦合等离子体内蒸发模拟 | 第32-44页 |
| ·引言 | 第32-34页 |
| ·计算机模拟在电感耦合等离子体中的应用 | 第32-33页 |
| ·悬浮液进入等离子体后的物理过程 | 第33-34页 |
| ·蒸发模型的构成 | 第34页 |
| ·等离子基本参数模型 | 第34-36页 |
| ·概述 | 第34-35页 |
| ·模型假设 | 第35页 |
| ·SIMPLER程序 | 第35-36页 |
| ·颗粒在等离子体内的行为 | 第36-42页 |
| ·传热模型 | 第36-38页 |
| ·颗粒的升温过程Ⅰ(T_0-T_m或者T_0-T_D) | 第38页 |
| ·颗粒熔化过程 | 第38-39页 |
| ·颗粒的升温过程Ⅱ(T_m-T_b) | 第39页 |
| ·热量传递控制的颗粒蒸发过程 | 第39-40页 |
| ·类碳化硅颗粒的分解过程 | 第40页 |
| ·质量传递控制的颗粒蒸发过程 | 第40-41页 |
| ·蒸发速率选择 | 第41-42页 |
| ·计算机程序编制 | 第42页 |
| ·计算结果 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-44页 |
| 第4章 悬浮液雾化直接进样分析高纯氧化铝 | 第44-56页 |
| ·引言 | 第44-45页 |
| ·仪器和试剂 | 第45-46页 |
| ·仪器和条件 | 第45-46页 |
| ·实验试剂 | 第46页 |
| ·悬浮液颗粒行为 | 第46-47页 |
| ·输运行为研究 | 第46页 |
| ·蒸发行为研究 | 第46-47页 |
| ·研磨方法和颗粒分离 | 第47-48页 |
| ·研磨方法 | 第47页 |
| ·颗粒分离 | 第47-48页 |
| ·悬浮液和酸解制样 | 第48-49页 |
| ·悬浮液配制 | 第48页 |
| ·高压酸解制样 | 第48-49页 |
| ·悬浮液表征 | 第49页 |
| ·ζ电位测试 | 第49页 |
| ·粒径分布测定 | 第49页 |
| ·结果与讨论 | 第49-55页 |
| ·输运损失 | 第49-52页 |
| ·蒸发效率计算 | 第52-53页 |
| ·分散剂及其用量对悬浮液稳定性的影响 | 第53-54页 |
| ·校准方法和分析结果 | 第54-55页 |
| ·本章结论 | 第55-56页 |
| 第5章 全文结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |