CAN总线IP的抗辐射加固设计与验证
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题的背景和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外单粒子翻转效应研究现状 | 第10-14页 |
| ·国外技术研究和发展概况 | 第10-13页 |
| ·国内技术研究和发展概况 | 第13-14页 |
| ·论文主要研究工作 | 第14页 |
| ·论文组织结构 | 第14-15页 |
| 第二章 SEU 率预估模型和抗SEU 加固技术 | 第15-29页 |
| ·空间辐射环境 | 第15-16页 |
| ·空间高能带电粒子环境简介 | 第15-16页 |
| ·SEU 产生机理 | 第16页 |
| ·单粒子翻转率预估模型 | 第16-21页 |
| ·质子的单粒子翻转率预估模型 | 第16-19页 |
| ·重离子的单粒子翻转率预估模型 | 第19-21页 |
| ·计算实例 | 第21页 |
| ·抗SEU 加固技术研究 | 第21-27页 |
| ·三模冗余技术 | 第22-25页 |
| ·EDAC 技术 | 第25-26页 |
| ·电荷补充技术 | 第26-27页 |
| ·小结 | 第27-29页 |
| 第三章 抗SEU 加固的CAN IP 核设计 | 第29-57页 |
| ·CAN IP 原型MCAN2 分析 | 第29-41页 |
| ·MCAN2 的整体结构 | 第29-31页 |
| ·MCAN2 的模块设计 | 第31-33页 |
| ·MCAN2 的寄存器配置 | 第33-35页 |
| ·MCAN2 的工作流程 | 第35-41页 |
| ·CAN IP 核抗SEU 加固设计实现 | 第41-52页 |
| ·寄存器组的加固设计 | 第41-44页 |
| ·存储器的加固设计 | 第44-46页 |
| ·有限状态机的加固设计 | 第46-52页 |
| ·仿真与测试 | 第52-55页 |
| ·综合结果分析 | 第52-53页 |
| ·故障注入方法 | 第53-54页 |
| ·故障注入结果 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-57页 |
| 第四章 抗SEU 加固的CAN IP 核验证 | 第57-75页 |
| ·基于断言的混合形式化验证研究 | 第57-61页 |
| ·断言验证方法研究 | 第57-60页 |
| ·形式化验证工具Magellan | 第60-61页 |
| ·加固CAN IP 核的断言验证 | 第61-73页 |
| ·总体验证策略 | 第61-62页 |
| ·部分断言功能点的提取 | 第62-64页 |
| ·状态机的断言验证方案 | 第64-68页 |
| ·验证执行 | 第68-71页 |
| ·验证结果 | 第71-73页 |
| ·小结 | 第73-75页 |
| 第五章 结论 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 在读期间研究成果 | 第83-84页 |
