激光束参数和光束质量测量系统
| 内容提要 | 第1-7页 |
| 引言 | 第7-8页 |
| 第一章 高斯光束 | 第8-24页 |
| ·高斯光束表达式 | 第8-10页 |
| ·高斯光束的基本性质 | 第10-17页 |
| ·光强分布特点 | 第10-13页 |
| ·相位分布特点 | 第13-14页 |
| ·瑞利长度(共焦参数)Z0 | 第14-15页 |
| ·发散角θ | 第15-16页 |
| ·高斯光束的衍射损耗 | 第16-17页 |
| ·高斯光束的复参数表示和传输性质 | 第17-19页 |
| ·近轴变换矩阵 | 第17-18页 |
| ·复参数表示 | 第18-19页 |
| ·高斯光束通过光学系统的变换 | 第19-24页 |
| ·通过复杂光学系统的变换规律 | 第19-21页 |
| ·通过薄透镜的变换规律 | 第21-22页 |
| ·通过薄透镜聚焦 | 第22-24页 |
| 第二章 光束质量 | 第24-31页 |
| ·评价标准 | 第24-26页 |
| ·M~2 因子 | 第26-30页 |
| ·M~2 定义 | 第26-28页 |
| ·M~2 因子的局限性和适用条件 | 第28-29页 |
| ·用二阶矩表示束宽的一些问题 | 第29-30页 |
| ·光束质量诊断仪及其发展状况 | 第30-31页 |
| 第三章 激光束参数测量 | 第31-36页 |
| ·束宽的测量方法比较 | 第31-32页 |
| ·瑞利尺寸和束散角的测量 | 第32-33页 |
| ·M~2 因子的测量方法 | 第33-34页 |
| ·脉冲激光光束质量的测量 | 第34-36页 |
| 第四章 系统建立及CCD 对系统的影响讨论 | 第36-42页 |
| ·系统装置 | 第36-37页 |
| ·CCD 工作原理和采集方式 | 第37-39页 |
| ·CCD 检测问题 | 第39-42页 |
| ·光敏器件的噪声 | 第39-40页 |
| ·背景噪声 | 第40页 |
| ·积分区域选取对光束质量参数测量的影响 | 第40-41页 |
| ·灰度抖动 | 第41-42页 |
| 第五章 实验部分 | 第42-51页 |
| ·观察CCD 固有噪声和背景光强弱 | 第42-43页 |
| ·观察测量时的灰度抖动性 | 第43页 |
| ·观察饱和失真并判断高斯光束 | 第43-45页 |
| ·测量光斑 | 第45页 |
| ·光斑分析软件 | 第45-51页 |
| ·预处理 | 第46-47页 |
| ·轮廓检测 | 第47页 |
| ·高斯滤波器拟合饱和失真 | 第47-48页 |
| ·判断光强均匀性 | 第48-50页 |
| ·光斑参数计算 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-57页 |
| 中文摘要 | 第57-60页 |
| SUMMARY | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 导师和作者简介 | 第65页 |
