超高速光电导开关性能表征方法的研究
| 中文摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·超快器件及性能评价 | 第7页 |
| ·超快电信号的测量方法 | 第7-12页 |
| ·光电辐射探测技术 | 第8页 |
| ·约瑟夫逊采样技术 | 第8-9页 |
| ·光电导采样技术 | 第9-10页 |
| ·电光采样技术 | 第10-11页 |
| ·采样测量技术性能比较 | 第11-12页 |
| ·本文主要研究的工作 | 第12页 |
| ·本章小节 | 第12-13页 |
| 第二章 超快光电导开关的原理、设计和理论输出 | 第13-27页 |
| ·光电导开关的基本原理 | 第13页 |
| ·超快光电导开关的设计 | 第13-17页 |
| ·超快光电导开关衬底材料的选择 | 第14-16页 |
| ·超快光电导开关的加工方法及其基本结构 | 第16-17页 |
| ·超快光电导开关输出的理论计算 | 第17-24页 |
| ·光电导开关的理论模型的搭建 | 第17-20页 |
| ·光电导开关输出特性数值理论求解 | 第20-24页 |
| ·超快线性光电导开关的频谱分析 | 第24-26页 |
| ·本章小节 | 第26-27页 |
| 第三章 电光采样技术原理及系统设计 | 第27-42页 |
| ·电光效应原理 | 第27-29页 |
| ·电光采样技术原理 | 第29-31页 |
| ·电光采样技术性能评价 | 第31-32页 |
| ·电光采样系统的结构设计 | 第32-33页 |
| ·采样方法的设计 | 第33-35页 |
| ·电光采样结构设计 | 第35-36页 |
| ·光电转换电路 | 第36-37页 |
| ·锁相检测设计 | 第37-40页 |
| ·工作原理 | 第37-38页 |
| ·工作参数 | 第38-39页 |
| ·实验设计 | 第39-40页 |
| ·仪器通讯设计及控制界面开发 | 第40-41页 |
| ·本章小节 | 第41-42页 |
| 第四章 自相关探测法 | 第42-47页 |
| ·自相关测量原理 | 第42-44页 |
| ·超短光脉冲宽度的确定 | 第44页 |
| ·经过改进的二阶自相关测量 | 第44-46页 |
| ·本章小节 | 第46-47页 |
| 第五章 实验与分析 | 第47-55页 |
| ·光电导开关的设计版图 | 第47页 |
| ·光电导开关的加工流程 | 第47-51页 |
| ·电极和传输线的制造工艺 | 第48-49页 |
| ·纳米氧化钛线的加工 | 第49-51页 |
| ·光机械延迟线分析 | 第51-52页 |
| ·光路搭建 | 第52-53页 |
| ·测试系统性能指标分析 | 第53-54页 |
| ·本章小节 | 第54-55页 |
| 第六章 结论与展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
