微波平面电路时域和频域测试技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·选题背景及研究意义 | 第10-12页 |
| ·选题背景 | 第10-11页 |
| ·研究意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-13页 |
| ·国外研究现状 | 第12-13页 |
| ·国内研究现状 | 第13页 |
| ·论文研究内容与组织结构 | 第13-16页 |
| ·本文研究内容 | 第13-14页 |
| ·本文组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 微波平面电路时域和频域测试方法与仪器 | 第16-21页 |
| ·微波平面电路定义 | 第16页 |
| ·微波平面电路时域反射法测试原理 | 第16-17页 |
| ·微波平面电路网络分析方法 | 第17-20页 |
| ·微波平面电路参数的频域表征 | 第17-18页 |
| ·微波平面电路矢量网络分析仪测量原理 | 第18-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 微波平面电路时域测试和频域测试 | 第21-37页 |
| ·时域单位冲激响应与频域S参数 | 第21-22页 |
| ·测试数据的时域-频域变换方法 | 第22-29页 |
| ·离散傅里叶变换 | 第23-24页 |
| ·Chirp-Z变换 | 第24-25页 |
| ·矩阵束方法 | 第25-29页 |
| ·时间分辨率和频率分辨率 | 第29-30页 |
| ·窗函数 | 第30-35页 |
| ·矩形窗 | 第30-32页 |
| ·Hanning窗和Hamming窗 | 第32-33页 |
| ·Kaiser-Bessel窗 | 第33-34页 |
| ·恢复系数 | 第34页 |
| ·常用窗函数比较 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 非均匀微波平面传输线时域阻抗测试与重构 | 第37-55页 |
| ·TDR时域测试分析 | 第37-42页 |
| ·时间/位置测试 | 第37-38页 |
| ·阻抗测试 | 第38-39页 |
| ·电感和电容测试 | 第39-42页 |
| ·多重反射与非均匀微波平面传输线阻抗重构 | 第42-47页 |
| ·非均匀微波平面传输线多重反射的产生与分析 | 第42-43页 |
| ·基于递归算法的多重反射计算 | 第43-46页 |
| ·非均匀微波平面传输线阻抗重构 | 第46-47页 |
| ·实验与结果 | 第47-54页 |
| ·非均匀微波平面传输线阻抗不连续点分析 | 第47-50页 |
| ·窗函数对测试数据时域-频域变换的影响 | 第50-51页 |
| ·非均匀微波平面传输线阻抗重构结果 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 微波平面电路频域去嵌入方法研究 | 第55-78页 |
| ·矢量网络分析仪测试系统与去嵌入问题 | 第55-57页 |
| ·传统矢量网络分析仪TRL校准方法 | 第57-61页 |
| ·基于S参数的矢量网络分析仪TRL校准方法 | 第61-68页 |
| ·基于S参数的矢量网络分析仪TRL校准理论 | 第61-67页 |
| ·方程求解要点及参数选根策略 | 第67-68页 |
| ·实验与结果 | 第68-77页 |
| ·夹具、校准件和被测件设计方法 | 第68-71页 |
| ·测试结果比较与分析 | 第71-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第85页 |
