高功率半导体激光器阵列参数测试仪研制
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| 1．1 课题背景 | 第7-8页 |
| 1．2 课题主要研究内容 | 第8-9页 |
| 第二章 基本知识介绍 | 第9-22页 |
| 2．1 半导体激光器发展史 | 第9-10页 |
| 2．2 高功率半导体激光器阵列 | 第10-14页 |
| 2．3 半导体激光器基本工作原理和性能 | 第14-17页 |
| 2．4 半导体激光器特征参数的测试方法 | 第17-22页 |
| 2．4．1 光电特性测量 | 第17-19页 |
| 2．4．2 光谱特性测量 | 第19-20页 |
| 2．4．3 远场特性测量 | 第20-21页 |
| 2．4．4 热特性测量 | 第21-22页 |
| 第三章 测试系统的总体设计 | 第22-25页 |
| 3．1 系统功能要求 | 第22页 |
| 3．2 系统技术指标 | 第22-23页 |
| 3．3 总体设计方案 | 第23-25页 |
| 第四章 驱动电源的设计 | 第25-32页 |
| 4．1 驱动电流源基本原理 | 第25-26页 |
| 4．2 大功率半导体激光器阵列驱动电流源的实现 | 第26-29页 |
| 4．2．1 AC/DC转换模块 | 第26-27页 |
| 4．2．2 功率变换模块 | 第27页 |
| 4．2．3 功率输出模块 | 第27-28页 |
| 4．2．4 外控信号处理电路 | 第28-29页 |
| 4．3 半导体激光器驱动中的保护电路 | 第29-32页 |
| 4．3．1 慢启动电路 | 第29-30页 |
| 4．3．2 浪涌的抑制 | 第30-32页 |
| 4．3．3 其它保护措施 | 第32页 |
| 第五章 温度控制系统的设计 | 第32-39页 |
| 5．1 半导体制冷片(TEC) | 第34-35页 |
| 5．2 温度控制电源实现 | 第35-37页 |
| 5．3 散热片选择与组装 | 第37-39页 |
| 第六章 数据采集与控制系统的设计 | 第39-50页 |
| 6．1 单片机选型 | 第39-40页 |
| 6．2 C8051F005主要技术指标 | 第40-41页 |
| 6．3 硬件设计 | 第41-46页 |
| 6．3．1 USB接口 | 第42-43页 |
| 6．3．2 前置放大模块设计 | 第43-44页 |
| 6．3．3 步进电机驱动电路 | 第44-46页 |
| 6．4 单片机软件设计 | 第46-50页 |
| 第七章 光学参量测试设计 | 第50-57页 |
| 7．1 光电探测器 | 第50-52页 |
| 7．2 积分球 | 第52-53页 |
| 7．3 光栅单色仪 | 第53-55页 |
| 7．4 远场测试设计 | 第55-57页 |
| 第八章 上位机软件设计 | 第57-69页 |
| 8．1 各模块的设计与实现 | 第58-63页 |
| 8．2 用户接口的设计 | 第63-69页 |
| 第九章 结论与建议 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第74-75页 |
| 附件1:温度控制电路原理图 | 第75-76页 |
| 附件2:数据采集电路原理图 | 第76-77页 |
| 学位论文评阅及答辩情况 | 第77页 |
